Тома/выпуски/составные части: Обзоры по электронной технике

Значок книги

Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, метрология, стандартизация / Министерство электронной промышленности СССР

Другие авторы/ответственные:	"Электроника", институт (Москва)
Вид документа:	Периодические издания
Опубликовано:	Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978―1982
Язык:	Русский
Предмет:	МЕТРОЛОГИЯ СТАНДАРТИЗАЦИЯ УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА

Анализ брака и отказов интегральных схем : (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1958―1978 гг.) / [Л. Н. Блеялкина, и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 44 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 2)

Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем обусловленные влиянием климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 66 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 2)

Надежность технологических процессов : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958―1978 гг.) / [Г. К. Мартынов, А. Н. Печенкин. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 87 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 3)

Некоторые модели в управлении качеством изделий электронной техники : (по данным отечественной печати за 1970―1980 гг.) / [П. М. Кайдаулов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981. — 40, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1981, вып. 1)

Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 36 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 3)

Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе информативных параметров : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1976 гг.) / [П. С. Гамлявый и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 93, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 1)

Прогнозирование технического состояния изделий электронной техники в процессе производства : (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1972―1979 гг.) / [В. П. Калявин, Ю. Н. Костенко, Г. С. Скосырский. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 57, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 1)

Физико-химические методы анализа в производстве интегральных схем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967―1981 гг.) / [Г. И. Завадский, А. Г. Кирилюк, А. А. Савенко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982. — 33 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1982, вып. 1)