Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, метрология, стандартизация / Министерство электронной промышленности СССР
| Другие авторы/ответственные: | "Электроника", институт (Москва) |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978―1982 |
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
1979, Вып.1: Прогнозирование надежности изделий электронной техники...
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1979, Вып.2: Анализ брака и отказов интегральных схем
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1979, Вып.3: Надежность технологических процессов
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1980, Вып.1: Прогнозирование технического состояния изделий электронной...
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1980, Вып.2: Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных...
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1980, Вып.3: Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем...
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1981, Вып.1: Некоторые модели в управлении качеством... / Кайдаулов П. М.
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||
1982, Вып.1: Физико-химические методы анализа в производстве интегральных...
| Всего: 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||