IBM ASIC design and testing / [guest editors: Edward P. Hsieh, Michael D. O'Neill]
Вид документа: | Периодические издания |
---|---|
Опубликовано: | Armonk, NY : International Business Machines Corporation, 1996 |
Физические характеристики: |
С. [1], 376―508 : іл. ; 28 см
|
Язык: | Английский |
Серия: |
IBM journal of research and development
; vol. 40, № 4 |
Загрузка...