IBM ASIC design and testing / [guest editors: Edward P. Hsieh, Michael D. O'Neill]

Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Armonk, NY : International Business Machines Corporation, 1996
Физические характеристики: С. [1], 376―508 : іл. ; 28 см
Язык: Английский
Серия: IBM journal of research and development ; vol. 40, № 4
Загрузка...