Proximal probe microscopies / [guest editors: H. Kumar Wickramasinge, Daniel Rugar]

Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Armonk, NY : International Business Machines Corporation, 1995
Физические характеристики: С. [1], 602―751 : іл. ; 28 см
Язык: Английский
Серия: IBM journal of research and development ; vol. 39, № 6
Загрузка...