Proximal probe microscopies / [guest editors: H. Kumar Wickramasinge, Daniel Rugar]
Вид документа: | Периодические издания |
---|---|
Опубликовано: | Armonk, NY : International Business Machines Corporation, 1995 |
Физические характеристики: |
С. [1], 602―751 : іл. ; 28 см
|
Язык: | Английский |
Серия: |
IBM journal of research and development
; vol. 39, № 6 |
Загрузка...