Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1974―I полугодие 1980 г.) / [Р. А. Лашевский, Н. В. Рабкина]
| Автор: | Лашевский, Р. А. |
|---|---|
| Другие авторы/ответственные: | Рабкина, Н. В. |
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Микроэлектроника ; 1980, вып. 4 |
Загрузка...