Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС : (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1974―I полугодие 1980 г.) / [Р. А. Лашевский, Н. В. Рабкина]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 30, [1] c. — (Обзоры по электронной технике. Микроэлектроника ; 1980, вып. 4) - Лашевский, Р. А. (Обзоры по электронной технике, 1980)