C - V методы измерения параметров МОП - структур: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.) / [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан]
| Автор: | Колешко, В. М. (род. 1942) |
|---|---|
| Другие авторы/ответственные: | Каплан, Г. Д. |
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1977 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Микроэлектроника ; 1977, вып. 2 |
Загрузка...