C - V методы измерения параметров МОП - структур : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.) / [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1977. — 82 c. — (Обзоры по электронной технике. Микроэлектроника ; 1977, вып. 2) - Колешко, В. М. (род. 1942) (Обзоры по электронной технике, 1977)