Результаты поиска авторов

/vufind

Разработка основ неразрушающего контроля приборов вакуумной и плазменной электроники по параметрам межэлектродной среды [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра техн. наук: (05.27.02). - Рязань, 1990. - 389 с.

“...Коротченко В. А. Владимир Александрович...”

Исследование применения фотооптического метода в рефрактометрии: Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина). - Л., 1966. - 19 с.

“...Коротченко В. А....”

Разработка основ неразрушающего контроля приборов вакуумной и плазменной электроники по параметрам межэлектродной среды: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.27.02) / Моск. энерг. ин-т. - М., 1990. - 34 с.

“...Коротченко В. А. Владимир Александрович...”

Прикладные задачи механики в электронной технике : (по данным отечественной печати за 1966―1982 гг.) / В. Я. Абрамов, В. А. Горелов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1983. — 27, [1] c. — (Обзоры по электронной технике. Электровакуумные и газоразрядные приборы ; 1983, вып. 1)

“...Коротченко В. А. 340...”