Тома/выпуски/составные части: Обзоры по электронной технике

Значок книги

Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством и стандартизация / Министерство электронной промышленности СССР

Другие авторы/ответственные:	"Электроника", институт (Москва), СССР. Министерство электронной промышленности
Вид документа:	Периодические издания
Опубликовано:	Москва : ЦНИИ "Электроника", 1970―1977
Язык:	Русский
Предмет:	СТАНДАРТИЗАЦИЯ УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА

Анализ физико-химических свойств индивидуальных веществ методом оптического отражения и поглощения / [С. А. Кутолин, Р. Н. Самойлова, Л. Ф. Белова]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1971. — 74 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1971, вып. 2)

Аппаратура для автоматического контроля и сортировки радиодеталей : (по материалам иностранной печати за 1971 г.) / Н. М. Евгеньевна. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1972. — 48, [2] с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1972, вып. 2)

Контроль температурной стабильности полей магнитных систем / В. А. Кисилев. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1972. — 53, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1972, вып. 1)

Методы контроля толщин покрытий из драгоценных металлов / С. М. Сысоев. — Москва : Институт "Электроника", 1970. — 29, [2] с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1970, вып. 1)

Методы точностных расчетов и рекомендации по их применению в электронной промышленности : (по данным отечественной печати за 1941―1973 гг.) / [В. П. Коротков, Л. В. Короткова]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1976. — 57 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством и стандартизация ; 1976, вып. 2)

Метрологическое обеспечение управления качеством изделий электронной техники / В. М. Пролейко, В. Н. Сретенский. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1973. — 39, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1973, вып. 1)

Модели расходования ресурса изделий электронной техники / [Г. Д. Карташов]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1977. — 76 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством и стандартизация ; 1977, вып. 1)

Надежность и долговечность зарубежных СВЧ приборов : (по данным зарубежной литературы за 1965―1975 гг.) / [А. Б. Семенова. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1976. — 72 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством и стандартизация ; 1976, вып. 4)

Применение математических методов в ЭВМ в стандартизации / Г. И. Колоднер. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1974. — 65 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1974, вып. 1)

Применение методов распознавания образов в системах управления качеством изделий электронной техники : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1942―1976 гг.) / [М. А. Булкин и др. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1976. — 76 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством и стандартизация ; 1976, вып. 3)

Принципы и методы разработки информационного языка ― посредника для автоматизированной фактографической информационно-логической системы (АФИЛС) / Б. Е. Яковлев. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1973. — 145 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1973, вып. 4)

Рабочий метод массовой статистической обработки на ЭЦВМ и воспроизведения в лабораторных условиях случайного вибрационного процесса (метод вибрационного годографа) / [В. И. Конычев и др. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1974. — 103 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1974, вып. 2)

Типовые конструкции контрольно-измерительного оборудования : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960―1973 гг.) / [О. Д. Струков, А. М. Плотицкий, Ф. И. Романов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1975. — 53 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством и стандартизация ; 1975, вып. 3)

Экзоэмиссионная диагностика изделий электронной техники / Р. И. Минц, Л. Г. Дубицкий. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1975. — 41 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1975, вып. 2)