Пропуск в контексте
Электронный каталог
Национальной библиотеки
Беларуси
Toggle navigation
Вход
Язык
Русский
Белорусский
English
Deutsch
Español
Français
中文(繁體)
Polski
Все поля
Заглавие
Автор/Создатель
Предмет
ISBN/ISSN/...
Найти
Расширенный поиск
Все поля
Заглавие
Автор/Создатель
Предмет
ISBN/ISSN/...
Найти
Расширенный поиск
Результаты поиска
Коллекции
Microelectronics and reliabili...
Структура документа
« Вернуться к результатам поиска
Отправить на Email
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNote
Экспорт в MARC
Экспорт в MARCXML
Экспорт в BibTeX
Добавить в Избранное
Печать
Microelectronics and reliability: an international journal
Сохранено в:
Вид документа:
Периодические издания
Опубликовано:
Oxford [etc.]
:
Pergamon Press
,
1964―
Язык:
Английский
Предмет:
МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ
МІКРАЭЛЕКТРОННЫЯ ПРЫБОРЫ
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
МІКРАЭЛЕКТРОНІКА
НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
НАДЗЕЙНАСЦЬ (тэхн.)
МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ
МІКРАЭЛЕКТРОННЫЯ СІСТЭМЫ
ISSN:
0026-2714
ГРНТИ:
47.14.07
Другие заглавия:
Микроэлектроника rus
Примечания:
Рэпрадуцыраванае выданне
6 разоў у год
Местонахождение
Тома/выпуски/составные части
Структура документа
BELMARC-запись
Загрузка...
Microelectronics and reliability
1983,Vol.23,№4 : European integrated circuit reliability
1981,Vol.21,№6 : Semiconductor and microprocessor technology 1981
1984,Vol.24,№2 : Advances in microelectronics
1989,Vol.29,№1 : RAM-cost analysis and modelling
1991,Vol.31,№4 : Petri nets and related graph models
1989,Vol.29,№3 : Reliability in electronics
1981,Vol.21,№3 : Semiconductor and microprocessor technology 1980
1976,Vol.15,№4 : Semiconductor technology 1976
1977,Vol.16,№4 : Semiconductor technology 1977
1979,Vol.19,№5/6 : Semiconductor and microprocessor technology 1979
1974,Vol.13,№5 : Special Seminex 1974 issue
×
Загрузка...