Тома/выпуски/составные части: Обзоры по электронной технике

Значок книги

Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания / Министерство электронной промышленности СССР

Другие авторы/ответственные:	"Электроника", институт (Москва)
Вид документа:	Периодические издания
Опубликовано:	Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981―1989
Язык:	Русский
Предмет:	ИСПЫТАНИЯ МЕТРОЛОГИЯ СТАНДАРТИЗАЦИЯ УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА

Автоматизированные системы испытаний ЦМД ЗУ : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1977―1980 гг.) / В. И. Проскурин, Г. В. Титов, С. И. Выдрин. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1983. — 52 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1983, вып. 4)

Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 1. Методологические вопросы : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981. — 57 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1981, вып. 2)

Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 2. Анализ характеристик действующих систем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982. — 30 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1982, вып. 3)

Возможности применения волоконно-оптических датчиков для измерения параметров магнитного поля : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1988 гг.) / О. А. Бузова [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 72 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 6)

Измерение малых расходов газов при производстве изделий микроэлектроники : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1968―1985 гг.) / Р. Н. Каратаев, Н. А. Пулина, В. Б. Лысов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 43 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 1)

Измерительные устройства магнитных характеристик поля и вещества на магнитооптическом эффекте Фарадея : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1961―1987 гг.) / О. А. Бузова, Е. Г. Дерюгина, В. К. Николаев. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 51 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 4)

Лазерные методы контроля полупроводниковых материало и структур / В. Н. Амазаспян [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 52 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 3)

Метод жидких кристаллов в контроле интегральных схем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1985 гг.) / А. Е. Рубцов, Г. Е. Невская. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1986. — 47 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1986, вып. 1)

Метрологическое обеспечение испытаний изделий электронной техники на механические и климатические внешние воздействующие факторы. Ч. 1. Обеспечение единства исследований внешних воздействующих факторов в условиях эксплуатации изделий электронной техники / В. Б. Лысов, Е. А. Якушенко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 78, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 4)

Метрологическое обеспечение испытаний изделий электронной техники на механические и климатические внешние воздействующие факторы. Ч. 2. Аттестация испытательного оборудования / В. Б. Лысов, Е. А. Якушенко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 23 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 5)

Метрологическое обеспечение испытаний изделий электронной техники на механические и климатические внешние воздействующие факторы. Ч. 3. Методы аттестации механического испытательного оборудования : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1984 гг.) / В. Б. Лысов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1985. — 47 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1985, вып. 1)

Модели и методы тестового диагностирования микропроцессорных БИС / В. В. Данилов [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 38 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 2)

Оптимизация метода нематических : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1988 гг.) / Б. Ю. Геликман [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 51 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 2)

Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А3В5 : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1989 гг.) / А. В. Бобыль [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1990. — 64 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1990, вып. 1)

Основные причины и механизмы отказов конденсаторов : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1988 гг.) / Б. Ю. Геликман [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 64 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 3)

Системы цифровой обработки изображений для интроскопических исследований : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1983―1989 гг.) / Б. И. Мазурик [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 56 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 7)

Современное состояние проблемы надежности кремниевых биполярных интегральных систем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1983 гг.) / М. И. Горлов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 61 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 1)

Состояние и перспективы развития фототермоакустической микроскопии материалов и изделий электронной техники / В. О. Ребони [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 32 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 2)

Спеуиализированные средства функционального контроля : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1977―1988 гг.) / В. Н. Литвак, Е. Е. Михайлов, А. А. Топтун. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 64 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 1)

Средства функционального диагностирования БИС : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1973―1983 гг.) / В. П. Ерлашов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1985. — 88 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1985, вып. 2)