Приспособление для рассматривания спектограмм ; Приспособление для измерений перемещений поверхности по нормали к ней (двойной микроскоп) ; Об одном методе исследования кристалов с помощью X-лучей / В. П. Линник. — Ленинград : Государственный оптический институт, 1931. — 8, [10] с. — (Труды Государственного оптического института ; т. 5, вып. 52) - Линник, В. П. (1889—1984) (Труды Государственного оптического института, 1931)