Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1959―1991 гг.) / Н. И. Брагин, Л. А. Сурменко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1992. — 28 с. — (Обзоры по электронной технике. Технология, организация производства и оборудование ; 1992, вып. 2) - Брагин, Н. И. (Обзоры по электронной технике, 1992)