Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1987 гг.) / С. С. Волков, А. Б. Толстогузов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 48 с. — (Обзоры по электронной технике. Технология, организация производства и оборудование ; 1988, вып. 4) - Волков, С. С. (Обзоры по электронной технике, 1988)