Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960―1991 гг.) / В. И. Орлов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1992. — 68 с. — (Обзоры по электронной технике. Технология, организация производства и оборудование ; 1992, вып. 6) - Баскаков, А. В. (Обзоры по электронной технике, 1992)