Бесконтактные методы контроля толщины и неплоскостности полупроводниковых слоев : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1980 гг.) / [составитель О. Н. Пономаренко. — Москва : Электроника, 1981. — 58, [1] с. — (Тематические указатели литературы. Микроэлектроника ; вып. 4 (323)) - Пономаренко, О. Н.; Дубровская, И. М. (Тематические указатели литературы, 1981)