Методы анализа качества микросхем при их производстве : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1981 гг.) / [В. И. Овчаренко, В. Е. Севостьянов]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982. — 39 с. — (Обзоры по электронной технике. Микроэлектроника ; 1982, вып. 1) - Овчаренко, В. И. (Обзоры по электронной технике, 1982)