Статистические методы анализа и контроля качества в полупроводниковом производстве / В. П. Кульвинова [и др.]

Автор: Кульвинова, В. П.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : Институт "Электроника", 1970
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Серия: Технология и организация производства ; 1970, вып. 11