Методы контроля макродефектов диэлектрических покрытий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1982 гг.) / И. С. Суровцев [и др.]

Автор: Суровцев, И. С.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1983
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Микроэлектроника ; 1983, вып. 3
Загрузка...