VLSI reliability / edited by Chenming Hu
| Вид документа: | Периодические издания |
|---|---|
| Опубликовано: | New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1993 |
| Физические характеристики: |
С. [2], 651―792 : іл. ; 28 см
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Proceedings of the IEEE
; vol. 81, № 5 |
Загрузка...