Приспособление для рассматривания спектограмм ; Приспособление для измерений перемещений поверхности по нормали к ней (двойной микроскоп) ; Об одном методе исследования кристалов с помощью X-лучей / В. П. Линник
| Автор: | Линник, В. П. (1889—1984) |
|---|---|
| Другие авторы/ответственные: | Баумгарт, К. К. (1880—1963), Государственный оптический институт имени С. И. Вавилова (Ленинград) |
| Вид документа: | Продолжающиеся издания |
| Опубликовано: | Ленинград : Государственный оптический институт, 1931 |
| Язык: | Русский Немецкий |
| Серия: |
Труды Государственного оптического института
; т. 5, вып. 52 |
Загрузка...