IBM ASIC design and testing / [guest editors: Edward P. Hsieh, Michael D. O'Neill]

Другие авторы/ответственные: Hsieh, Edward P., O'Neill, Michael D.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Armonk, NY : International Business Machines Corporation, 1996
Язык: Английский
Серия: IBM journal of research and development ; vol. 40, № 4
Загрузка...