Требования к аналитическим обзорам органа НТИ, их подготовка и оценка качества: (семиотический подход) / Р. В. Вальдман

Автор: Вальдман, Р. В.
Другие авторы/ответственные: Фокин, В. М., "Электроника", институт (Москва)
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : Электроника, 1978
Язык: Русский
Серия: Методические материалы Информатика ― наука, практика ; вып. 4 (60)