Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1934―1976 гг.) / [Ю. К. Крутоголов и др.]

Автор: Крутоголов, Ю. К.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1976
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Материалы ; 1976, вып. 5
Загрузка...