Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1959―1991 гг.) / Н. И. Брагин, Л. А. Сурменко

Автор: Брагин, Н. И.
Другие авторы/ответственные: Сурменко, Л. А.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1992
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Технология, организация производства и оборудование ; 1992, вып. 2
Загрузка...