Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960―1991 гг.) / В. И. Орлов
| Автор: | Баскаков, А. В. |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1992 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Технология, организация производства и оборудование ; 1992, вып. 6 |
Загрузка...