Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем: (по материалам зарубежной печати за 1966―1986 гг.) / И. А. Калябина
Автор: | Калябина, И. А. |
---|---|
Вид документа: | Периодические издания |
Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1986 |
Язык: | Русский |
Серия: |
Обзоры по электронной технике
Технология, организация производства и оборудование ; 1986, вып. 18 |
Загрузка...