Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем: (по материалам зарубежной печати за 1966―1986 гг.) / И. А. Калябина

Автор: Калябина, И. А.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1986
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Технология, организация производства и оборудование ; 1986, вып. 18
Загрузка...