Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1979 гг.) / [А. Е. Богатырев, Л. И. Шушунова, Г. М. Цыганов]
| Автор: | Богатырев, А. Е. |
|---|---|
| Другие авторы/ответственные: | Шушунова, Л. И., Цыганов, Г. М. |
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Серия 7. Технология, организация производства и оборудование ; 1980, вып. 3 |
Загрузка...