Бесконтактные методы контроля толщины и неплоскостности полупроводниковых слоев: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1980 гг.) / [составитель О. Н. Пономаренко
Другие авторы/ответственные: | Пономаренко, О. Н., Дубровская, И. М. |
---|---|
Вид документа: | Периодические издания |
Опубликовано: | Москва : Электроника, 1981 |
Язык: | Русский |
Серия: |
Тематические указатели литературы
Микроэлектроника ; вып. 4 (323) |
Загрузка...