Бесконтактные методы контроля толщины и неплоскостности полупроводниковых слоев: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1980 гг.) / [составитель О. Н. Пономаренко

Другие авторы/ответственные: Пономаренко, О. Н., Дубровская, И. М.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : Электроника, 1981
Язык: Русский
Серия: Тематические указатели литературы Микроэлектроника ; вып. 4 (323)
Загрузка...