Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1981 гг.) / [В. И. Овчаренко, В. Е. Севостьянов]
| Автор: | Овчаренко, В. И. |
|---|---|
| Другие авторы/ответственные: | Севостьянов, В. Е. |
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Микроэлектроника ; 1982, вып. 1 |
Загрузка...