Измерение толщины тонких пленок, отличающихся электрофизическими свойствами / Н. И. Докукина
| Автор: | Докукина, Н. И. |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1970 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Серия: Контрольно-измерительная аппаратура ; 1970, вып. 7 |
Загрузка...