Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля / С. А. Еремин, Д. Б. Десятов, В. В. Сысоев

Автор: Еремин, С. А.
Другие авторы/ответственные: Десятов, Д. Б., Сысоев, В. В.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 5