Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А3В5: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1989 гг.) / А. В. Бобыль [и др.]
| Автор: | Бобыль, А. В. |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1990 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1990, вып. 1 |
Загрузка...