Модели и методы тестового диагностирования микропроцессорных БИС / В. В. Данилов [и др.]
| Автор: | Данилов, В. В. |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 2 |
Загрузка...