Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем обусловленные влиянием климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова
| Автор: | Глудкин, О. П. |
|---|---|
| Другие авторы/ответственные: | Русанова, А. Л., Суслова, И. Н. |
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 2 |
Загрузка...