Методы контроля толщин покрытий из драгоценных металлов / С. М. Сысоев
| Автор: | Сысоев, С. М. |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : Институт "Электроника", 1970 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Серия: Управление качеством и стандартизация ; 1970, вып. 1 |
Загрузка...