Применение метода внутреннего трения для исследования полупроводников / Л. Н. Александров, М. И. Зотов

Автор: Александров, Л. Н.
Другие авторы/ответственные: Зотов, М. И.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : Институт "Электроника", 1970
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Серия: Полупроводниковые приборы ; 1970, вып. 7
Загрузка...