Механизмы отказови надежность мощных СВЧ транзисторов / [А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич]

Автор: Нечаев, А. М.
Другие авторы/ответственные: Рубаха, Е. А., Синкевич, В. Ф.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Полупроводниковые приборы ; 1978, вып. 10
Загрузка...