Механизмы отказов и надежность транзисторов на арсениде галлия: (реферативно-аналитический обзор) / [А. М. Нечаев и др.]
| Автор: | Нечаев, А. М. |
|---|---|
| Вид документа: | Периодические издания |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981 |
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
Полупроводниковые приборы ; 1981, вып. 2 |
Загрузка...