Многоуровневая металлизация интегральных микросхем и проблемы ее надежности. Ч. 1: (по материалам отечественной и зарубежной литературы за период 1969―1981 г.) / И. Н. Рубцов, Л. С. Турилина

Автор: Рубцов, И. Н.
Другие авторы/ответственные: Турилина, Л. С.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Полупроводниковые приборы ; 1982, вып. 4
Загрузка...