Методы оценки радиационной стойкости ИЭТ СВЧ: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1963―1988 гг.) / [В. Я. Эфрос и др.

Другие авторы/ответственные: Эфрос, В. Я., Бацев, В. И.
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1990
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике Электроника СВЧ ; 1990, вып. 13
Загрузка...