Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych: wybrane zagadnienia / Andrzej Sikora
| Автор: | Sikora, A. |
|---|---|
| Вид документа: | Продолжающиеся издания |
| Опубликовано: | Warszawa : IEL, 2012 |
| Язык: | Польский Английский |
| Серия: |
Prace Instytutu Elektrotechniki
; r. 59, z. 257 |
| Предмет: |
Загрузка...