Структура документа: Ч. 2

Вид документа:	Книги
Опубликовано:	2011
Язык:	Русский
Предмет:	НАНОТЕХНОЛОГИИ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ СУБМИКРОННЫЕ СТРУКТУРЫ ТОЛЩИНОМЕРЫ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ КАЛИБРОВКА СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ МОДУЛИ УПРУГОСТИ ПАКЕТЫ ПРИКЛАДНЫХ ПРОГРАММ УПРАВЛЯЮЩИЕ ПРОГРАММЫ SURFACESCAN (программный продукт) SURFACEVIEW (программный продукт)

ISBN:	978-985-525-537-7
УДК:	620.3:620.179.11:004.9(076.5)(075.8) 621.713.38:621.382.049.77(076.5)(075.8) 621.385.833.22:004.932(076.5)(075.8)
ГРНТИ:	59.45.37 50.41.25 29.31.29 28.23.15 47.33.31 47.01.81
Жанр:	ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА ПРАКТИКУМ ДЛЯ ВУЗОВ
Примечания:	Библиография в конце лабораторных работ 100 экз.